logo
Να στείλετε μήνυμα

Guangdong Hongtuo Instrument Technology Co.,Ltd.

Αρχική Σελίδα Προϊόνταοπτική μετρώντας μηχανή

Φασματοφωτόμετρο ορατού υπερύθρου 400-1100 nm για φασματική μέτρηση

Φασματοφωτόμετρο ορατού υπερύθρου 400-1100 nm για φασματική μέτρηση

  • Φασματοφωτόμετρο ορατού υπερύθρου 400-1100 nm για φασματική μέτρηση
Φασματοφωτόμετρο ορατού υπερύθρου 400-1100 nm για φασματική μέτρηση
Λεπτομέρειες:
Τόπος καταγωγής: Κίνα
Μάρκα: Hontotest
Πιστοποίηση: ASTM D1003/D1044,ISO13468/ISO14782,JIS K 7105,JIS K 7361,JIS K 7136,GB/T 2410-08,CIE No.15,ISO 7724/1,ASTM E1164,DIN 5033 Teil7,JIS Z8722
Αριθμό μοντέλου: DH-DH-CS-730
Πληρωμής & Αποστολής Όροι:
Ποσότητα παραγγελίας min: 1 σετ
Τιμή: USD14,480.00
Συσκευασία λεπτομέρειες: Τυπική ξύλινη θήκη εξαγωγής
Χρόνος παράδοσης: Περίπου 3 ημέρες
Όροι πληρωμής: L/C, D/A, D/P, T/T
Δυνατότητα προσφοράς: 1000 σετ ανά μήνα
Επικοινωνία
Λεπτομερής Περιγραφή Προϊόντος
Ονομα: Φασματοφωτόμετρο ορατού υπερύθρου 400-1100 nm για φασματική μέτρηση Εύρος μέτρησης: 0-100%
Φασματική απόκριση: Φασματική συνάρτηση CIE Υ Διασύνδεση: RS-232,USB-A,USB-B
Εξουσία: 220V (με καλώδιο τροφοδοσίας), 110V διαθέσιμα κατόπιν αιτήματος τυποποιημένα εξαρτήματα: Λογισμικό διαχείρισης υπολογιστή, τυπική ταινία ανάλυσης

Φασματοφωτόμετρο Ορατού-Υπέρυθρου 400-1100nm για Φασματικές Μετρήσεις

 Χαρακτηριστικά

  1. Ευρύ φασματικό εύρος: 400-1100nm,
  2.  Υπέρ-ευρεία κυψέλη δείγματος 140mm
  3. Ανάλυση 1nm
  4. Οθόνη αφής 7 ιντσών

​​ Τεχνικές Παράμετροι

Μοντέλο DH-CS-730
Εύρος μήκους κύματος 400-1100nm
Ανάλυση μήκους κύματος 1nm
Δομή οπτικής διαδρομής 0/d
Παράμετροι μέτρησης Θολερότητα, Διαπερατότητα (T), Διαύγεια (C), CIE Lab, LCh, CIE Luv, XYZ, Yxy, Φασματική Διαπερατότητα, Hunter Lab Munsell MI, CMYK, Λευκότητα WI (ASTM E313-00, ASTM E313-73, CIE/ISO, AATCC, Hunter, Taube Berger Stensby), Κιτρινίλα YI (ASTM D1925, ASTM E313-00, ASTM E313-73), Απόχρωση (ASTM E313-00), Δείκτης Μεταμερισμού (Milm), APHA, Pt-Co (Δείκτης Πλατίνας-Κοβαλτίου), Δείκτης Gardner, Διαφορά Χρώματος (ΔE*ab, ΔE*CH, ΔE*uv, ΔE*cmc(2:1), ΔE*cmc(1:1), ΔE*94, ΔE*00)
Πηγή φωτός

Θολερότητα/Διαπερατότητα: CIE-A, CIE-C, CIE-D65

Δείκτες χρωματικότητας: A,C, D50, D55, D65, D75, F1, F2, F3, F4, F5, F6, F7, F8, F9, F10,F11,F12, CMF, U30, DLF, NBF, TL83, TL84

Πρότυπα ASTM D1003/D1044,ISO13468/ISO14782,JIS K 7105,JIS K 7361,JIS K 7136,GB/T 2410-08,CIE No.15,ISO 7724/1,ASTM E1164,DIN 5033 Teil7,JIS Z8722 Condition c standard
Εύρος μέτρησης 0-100%
Φασματική απόκριση Συνάρτηση Φάσματος CIE Y
Μέγεθος φωτισμού και διαφράγματος δείγματος 18mm/25.4mm
Ανάλυση θολερότητας 0.01
Επαναληψιμότητα θολερότητας ≤0.05
Επαναληψιμότητα διαπερατότητας ≤0.05
Διεπαφή RS-232,USB-A,USB-B
Τροφοδοσία 220V (με καλώδιο τροφοδοσίας), 110V διαθέσιμο κατόπιν αιτήματος
Τυπικά αξεσουάρ Λογισμικό διαχείρισης Η/Υ, πρότυπη μεμβράνη ανάλυσης

Φασματοφωτόμετρο ορατού υπερύθρου 400-1100 nm για φασματική μέτρηση

 

 

 

Στοιχεία επικοινωνίας
Guangdong Hongtuo Instrument Technology Co.,Ltd

Υπεύθυνος Επικοινωνίας: Mrs. Julie Zhong

Τηλ.:: 86-13267004347

Φαξ: 86-769-2318-1253

Στείλετε το ερώτημά σας απευθείας σε εμάς (0 / 3000)

Άλλα προϊόντα